高解析掃描穿透式電子顯微鏡
英文名稱 | Transmission Electron Microscope, TEM |
功能說明 |
l 具有掃描(STEM)及穿透(TEM)功能,可觀察材料、生物、細胞、高分子軟性材料的微細組織,擷取明視野(Bright Field, BF)、暗視野(Dark Field, DF)、高角度環狀暗視野(HAADF)、高解析度影像。 l 晶體結構及缺陷之觀察分析。 l 微區繞射分析,鑑定結晶材料微結構。 l 高解析(HREM),增強訊號並放大影像分析結晶材料微結構。 l 可數位存取TEM / STEM影像。 l 具有冷凍傳輸樣品載台,可有效降低Low Does樣品因電子束照射而產生的破壞,亦可觀測冷凍低溫生物樣品(Cryo-TEM)。 l 能量散佈能譜儀(EDS):化學元素全能譜定性(原子序B5~U92)及半定量分析,亦有線掃描(Line scan)、分佈(Mapping)之測試。 |
廠牌型號 | JeolJEM-2100 |
儀器規格 |
1.加速電壓:80-200 KV 2.放大倍率:X50 ~ X1,500,000 3.解像力: point to point: 0.23 nm,Lattice image:0.14 nm 4.最小Spot size : 0.5nm 5.雙傾斜基座:X軸±35°;Y軸±30°。 |
建構年份 | 2010 |
收費標準 | 詳如下所示 |
備註 | |
關鍵字 | TEM、 Microstructure、Grain、Magnetic |
放置位置 | TEM穿透式電子顯微鏡實驗室 |
管理者 |
燃料電池中心 趙珍翌小姐 電話:03-4638800分機:3088 |
6966集团网站燃料電池中心─使用收費標準
儀器中(英)文名稱 | 穿透式電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope, TEM) |
學術單位 |
|
財團法人與廠商 |
|
管理人員 |
燃料電池中心 趙珍翌小姐 電話:03-4638800分機:3088 |
備註 |
(1) 數位CCD 取照片 (2) 元素分析 EDS (費用另計) (3) 可代做TEM試片(費用另計) (4) 使用者需詳細說明試片材料、製作方式與溶劑種類,為減少不必要的污染,本機台對於檢驗樣品的限制如下: |