高解析掃描穿透式電子顯微鏡

 

高解析掃描穿透式電子顯微鏡

TEM 1 TEM 2
英文名稱 Transmission Electron Microscope, TEM
功能說明

l  具有掃描(STEM)及穿透(TEM)功能,可觀察材料、生物、細胞、高分子軟性材料的微細組織,擷取明視野(Bright Field, BF)、暗視野(Dark Field, DF)、高角度環狀暗視野(HAADF)、高解析度影像。

l  晶體結構及缺陷之觀察分析。

l  微區繞射分析,鑑定結晶材料微結構。

l  高解析(HREM),增強訊號並放大影像分析結晶材料微結構。

l  可數位存取TEM / STEM影像。

l  具有冷凍傳輸樣品載台,可有效降低Low Does樣品因電子束照射而產生的破壞,亦可觀測冷凍低溫生物樣品(Cryo-TEM)。

l  能量散佈能譜儀(EDS):化學元素全能譜定性(原子序B5~U92)及半定量分析,亦有線掃描(Line scan)、分佈(Mapping)之測試。

廠牌型號 JeolJEM-2100
儀器規格

1.加速電壓:80-200   KV 

2.放大倍率:X50 ~   X1,500,000 

3.解像力: point to   point: 0.23 nmLattice image0.14 nm 

4.最小Spot size   : 0.5nm 

5.雙傾斜基座:X±35°Y±30°

建構年份 2010
收費標準 詳如下所示
備註  
關鍵字 TEM MicrostructureGrainMagnetic
放置位置 TEM穿透式電子顯微鏡實驗室
管理者

燃料電池中心

趙珍翌小姐

電話:03-4638800分機:3088
Email:Email住址會使用灌水程式保護機制。你需要啟動Javascript才能觀看它

 

6966集团网站燃料電池中心─使用收費標準

儀器中()文名稱 穿透式電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope, TEM)
學術單位
  • 3,150/3小時
額外收費:
  • CCD影像:63 /
  • 光學底片105 /
  • EDS1,050/5
  • Mapping1,050/
財團法人與廠商
  • 6,300/3小時
額外收費:
  • CCD影像:126 /
  • 光學底片210 /
  • EDS2,100/5
  • Mapping2,100/
管理人員

燃料電池中心

趙珍翌小姐

電話:03-4638800分機:3088
Email:Email住址會使用灌水程式保護機制。你需要啟動Javascript才能觀看它

備註

(1) 數位CCD 取照片

(2) 元素分析 EDS (費用另計)

(3) 可代做TEM試片(費用另計)

(4) 使用者需詳細說明試片材料、製作方式與溶劑種類,為減少不必要的污染,本機台對於檢驗樣品的限制如下:
  1.
待測樣品應該具有適當、足夠的機械強度。
  2.
會產生相變及蒸鍍效應低熔點的材料,請勿預約本機台。
  3.
電子束照射下會分解或釋出氣體之樣品,若有影響真空造成污染之虞,本單位有權拒絕受理。
  4.
具強磁性、磁性或易被電磁透鏡吸引的粉末型式樣品或材料,本單位有權拒絕受理。
  5.
未經正確處理或充分乾燥的樣品,本單位有權拒絕受理。
  6.
有機及生物樣品請於24小時前送至樣品室進行抽氣乾燥。

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